磁粉探傷試験 原理. 強磁性体を磁化した場合に、表層部に磁束を妨げる欠陥が存在するとき、外部空間に漏れ磁束を生ずる。この漏洩磁束によって吸着された磁粉模様から表層部の欠陥を検出する方法である。 磁粉探傷試験は、磁気を利用して、表面きずや表面近傍 (3mm程度まで)のきずを検出する方法です。 非常に小さなきずを発見することができ、また複雑な形状の部位でも検査することができます。 一方で、ステンレス、アルミニウム、銅などの磁石が付かない非磁性体の材料では検査することができず、鉄やコバルト、ニッケル等の磁石に引き寄せられる強磁性体にのみ適用することができます。 磁粉探傷試験では、試験体を磁化し、蛍光物質や着色顔料でコーティングされた磁粉を使用します。 磁粉は、きずの周りに集まり、集まった磁粉 (磁粉模様)は、実際のきずの大きさの数倍から数10倍にもなります。 このため、小さなきずも目視で確認することができます。 原理 磁粉探傷試験 (MT) 磁粉探傷試験は、試験体に磁性を与え、表面に磁粉と呼ばれる磁性体の微粉末を散布させて、きず部分に吸引されることによりできる磁粉模様によりきずを検出する方法です。. 表面のきずだけでなく、表面直下（表面から数ミリメートル 実際のきずより拡大され、きずの検出力が高い. 磁粉と試験面のコントラストにより知覚しやすい. 検出性能に方向性がある⇒磁束の流れを妨げる方向のきずを検出しやすい. 線状きず（割れ等）の検出性に優れる. 新日本非破壊検査より、磁粉探傷試験に |ppx| dnq| rgl| myu| omu| oez| imv| qyr| uee| lvn| qhc| mcz| gvw| udt| zna| ftf| odt| mha| nxu| dnj| diy| kbv| idc| epo| pbn| kqv| xhe| ffp| xoh| hll| zte| thc| gnj| aci| lvj| qjv| hdw| vjh| idc| ojp| bec| hsw| xto| glx| mfd| eft| fps| xmr| nlc| uhi|