導通 試験 目的
保護導通試験は絶縁抵抗,耐電圧,漏れ電流などとともに,電気機器の安全性の評価項目として義務付けれられているものの1つである.その試験が適用されるものとしては,OA機器を始め,計測器,電源,医療用電気機器(病院電気設備)およびクラスI機器の家電品などがある.この試験自体は,万一機器の絶縁不良が発生して,危険な電位が機器表面に露出しても,それを接地(アース)によって,感電のしないよう保護できるかを評価するものである.適用する箇所は,対象となる機器の保護接地された金属部とアース端子との間である.図1にそのイメージ図を示すが,言い換えると,アース端子とそれに対して電気的に接続されているべき部分との間の抵抗値を測定することになる.板金で構成されている機器や,金属ネジで金属フレームに接続されている
試験の目的 製品の接触可能な金属部が、十分に低い抵抗で保護接地されていることを確認します。 試験方法 アース線と製品の接触可能な金属部(筐体等)間に、カレントトランス(CT)で増幅した電流を流し、その電圧降下を測定します。 電安法では、試験電流が通電できること、各部に異常な発熱がなく且つ接続部の電圧降下が1.5V以下であることが規定されています。 品の接触可能な金属部が、十分に低い抵抗で保護接地されていることを確認します。 対応規格 製品電気用品安全法(電安法)、医薬品医療機器法(旧薬事法)、IEC 60335-1、等の接触可能な金属部が、十分に低い抵抗で保護接地されていることを確認します。 プロダクト解析センターへの「ご依頼」「お問い合わせ」はこちら
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